技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES并不是沉積物樣本中的每一粒顆粒都反映了同樣的漂洗和掩埋歷史。通過分析單一礦物實(shí)體(無(wú)論是顆粒還是部分),可以區(qū)分不同的劑量群,并為不同的事件(如擱淺或沉積)推導(dǎo)出模型。
u 空間分辨發(fā)光的單顆粒檢測(cè)
u 單顆粒測(cè)量
u 生物擾動(dòng)和混合的檢測(cè)
u 沉積組分的分類,如巖石侵蝕與風(fēng)成作用
u 異質(zhì)樣品的空間分析,例如礦物共生
由lexsyg research檢測(cè)到的石英顆粒前2秒藍(lán)色激發(fā)光的偽色空間分辨發(fā)光
參考文獻(xiàn):
Chauhan N, Adhyaru P, Vaghela H & Singhvi AK (2014) 《基于EMCCD的發(fā)光成像系統(tǒng),用于空間分辨的地質(zhì)年代測(cè)量和輻射劑量測(cè)定的應(yīng)用》 Journal of Instrumentation 9, P11016.
Greilich S & Wagner GA (2006) 《HR-OSL空間分辨測(cè)年技術(shù)的開發(fā)》 Radiation Measurements 41, 738-743.
Olko P, Czopyk L, Klosowski M & Waligórski MPR (2008) 《使用配備CCD攝像機(jī)的TL檢測(cè)儀進(jìn)行熱釋光劑量測(cè)定》 Radiation Measurements 43, 864-869.
德國(guó)Freiberg釋光測(cè)年儀TL/OSL配置選項(xiàng)
? Beta, Alpha or X-ray 輻照源可選
? 自動(dòng)探測(cè)器更換器(4位)
? 濾光片更換器的自動(dòng)檢測(cè) (也包括過濾片的自動(dòng)檢測(cè))
? 使用基于EMCCD的高靈敏度光譜檢測(cè)單元進(jìn)行空間分辨的單粒分析 (UV/IR spectroscopy)
? LED-曬退裝置(太陽(yáng)模擬器)
? 樣本攝像
? 超高速脈沖(< 10ns); 時(shí)間分辨的釋光
? 用于輻射缺陷表征的熱電制冷
? 用于石英和長(zhǎng)石元素分析的XRF附加組件
光釋光測(cè)年基本流程:
野外:
1、 采取樣品,測(cè)量伽馬劑量率(可選)
2、 提取一定粒級(jí)的石英或鉀長(zhǎng)石顆粒
3、 測(cè)量樣品的含水量和放射性(化學(xué)或放射性測(cè)量)計(jì)算劑量率
4、 測(cè)量樣品的光釋光,計(jì)算等效劑量,統(tǒng)計(jì)分析
5、 計(jì)算年齡
(光釋光測(cè)年基本流程來自北京大學(xué)光釋光測(cè)年實(shí)驗(yàn)室,使用釋光測(cè)年儀器型號(hào)為:Lexsygsmart)
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